高壓閃絡測量法的工作原理:
就大部分故障本質(zhì)來說,基本都屬于絕緣體的損壞。高阻故障是由于絕緣介質(zhì)的抗電強度下降所致。因為故障點的阻值高,測量電流小,所以即使用足夠靈敏的儀表也難以測量。對于脈沖法,由于故障點等效阻抗幾乎等于電纜特性阻抗,所以反射系數(shù)幾乎等于零,因得不到反射脈沖而無法測量。
但從介質(zhì)的電擊穿現(xiàn)象出發(fā),只要對電纜加足夠高的電壓(當然低于最高試驗電壓),故障點就會發(fā)生擊穿現(xiàn)象。在擊穿的瞬間,故障點被放電電弧短路,所以在故障點放電前后,就產(chǎn)生電壓的躍變。由于介質(zhì)擊穿,其電離過程需要一定的時間,而弧光放電一般要持續(xù)數(shù)百微秒到幾個毫秒,因此躍變
電壓在放電期間就以波的形式在故障點和電纜端頭之間來回反射。如果在電纜的端頭(始端或終端),把瞬間躍變電壓及來回反射的波形記錄下來,便可測量出電波來回反射的時間;再根據(jù)電波在電纜中的傳播速度,就可以算出故障點到端頭的距離?;谶@個物理機理產(chǎn)生了閃絡測試法。
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